你(nǐ)知道粒度儀的分(fēn)類有哪些麽

　　粒度儀是用物理(lǐ)的方法測試固體(tǐ)顆粒的大(dà)小和分(fēn)布的一種儀器。根據測試原理(lǐ)的不同分(fēn)爲沉降式粒度儀、沉降天平、激光(guāng)粒度儀、光(guāng)學顆粒計(jì)數器、電阻式顆粒計(jì)數器、顆粒圖像分(fēn)析儀等。

　　下面讓我們來(lái)詳細的了解一下粒度儀的分(fēn)類吧(ba)。

　　1、激光(guāng)粒度儀

　　采用MIE散射原理(lǐ)的激光(guāng)粒度儀

　　采用MIE散射原理(lǐ)的激光(guāng)粒度儀由自(zì)主研發的會聚光(guāng)傅立葉變換光(guāng)路(lù)和無約束自(zì)由拟合是數據處理(lǐ)軟件(jiàn)組成，可(kě)檢測顆粒大(dà)小及分(fēn)布，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個波段。

　　其測試顆粒大(dà)小及分(fēn)布時采用的分(fēn)散系統根據不同的測試要求分(fēn)爲濕法分(fēn)散系統、幹法分(fēn)散系統和幹濕一體(tǐ)分(fēn)散系統。

　　當光(guāng)線照(zhào)射到顆粒上時會發生(shēng)散射、衍射，其衍射、散射光(guāng)強度均與粒子的大(dà)小有關。觀測其光(guāng)強度，可(kě)應用Fraunhofer 衍射理(lǐ)論和Mie 散射理(lǐ)論求得(de)粒子徑分(fēn)布(激光(guāng)衍射/ 散射法)，使用Mie 散射理(lǐ)論進行計(jì)算。光(guāng)入射到球形粒子時可(kě)産生(shēng)三類光(guāng):第一類，在粒子表面、通過粒子内部、經粒子内表面的反射光(guāng);第二類，通過粒子内部而折射出的光(guāng);第三類，在表面的衍射光(guāng)。這些現象與粒子的大(dà)小無關，全都(dōu)可(kě)以作(zuò)爲光(guāng)散射處理(lǐ)。

　　一般地，光(guāng)散射現象可(kě)以用經Maxwell 電磁方程式嚴密解出的Mie 散射理(lǐ)論說(shuō)明。但(dàn)是，實際使用起來(lái)過于複雜，爲了求得(de)實際的光(guāng)強度，可(kě)根據入射波長λ和粒子半徑r 的關系，即:r<λ時，Rayleigh 散射理(lǐ)論;r>λ時，Fraunhofer 衍射理(lǐ)論。在使用上述理(lǐ)論時，應考慮到光(guāng)的波長和粒徑的關系，在不同的領域使用不同的理(lǐ)論。

　　粒徑大(dà)于波長的時候，由Fraunhofer 衍射理(lǐ)論求得(de)的衍射光(guāng)強度和Mie散射理(lǐ)論求得(de)的散射光(guāng)強度大(dà)體(tǐ)是一緻的。因此，可(kě)以把Fraunhofer 衍射理(lǐ)論作(zuò)爲Mie 散射理(lǐ)論的近似處理(lǐ)。這時，光(guāng)散射(衍射)的方向幾乎都(dōu)集中在前方，其強度與粒子徑的大(dà)小有關，有很大(dà)的變化。即表示粒子徑固有的光(guāng)強度譜，解出粒子的光(guāng)強度分(fēn)布(散射譜)就(jiù)可(kě)以定出粒子徑。當波長和粒子徑很接近的時候，不能用Fraunhofer 的近似式來(lái)表示散射強度。這時有必要根據Mie 散射理(lǐ)論作(zuò)進一步討(tǎo)論。在Mie散射中的散射光(guāng)強度由入射光(guāng)波長、粒子徑、粒子和介質的相(xiàng)對折射率來(lái)确定。

　　2、顆粒圖像儀

　　顆粒圖像儀擁有靜(jìng)态、動态兩種測試方法。

　　靜(jìng)态方式使用改裝的顯微鏡系統，配合高清晰攝像機(jī)，将顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相(xiàng)關的計(jì)算機(jī)軟件(jiàn)可(kě)進行顆粒大(dà)小、形狀、整體(tǐ)分(fēn)布等屬性的計(jì)算，并可(kě)以将測試結果輸出爲報告。

　　動态方式具有形貌和粒徑分(fēn)布雙重分(fēn)析能力。重建了全新循環分(fēn)散系統和軟件(jiàn)數據處理(lǐ)模塊，解決了靜(jìng)态顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷