在使用二手粒度儀時這四個注意事(shì)項要了解

　　催化劑原料粉體(tǐ)、微球狀催化荊以及組成的二次離(lí)子等，都(dōu)是不同位徑的多分(fēn)散顆粒體(tǐ)系.測量單顆粒粒徑是沒有意義的，隻有用統計(jì)的方法得(de)到平均粒徑和粒徑(即拉度)分(fēn)布才能表征這類顆粒體(tǐ)系的必要數據。
 

　　表示粒徑分(fēn)布的簡單的方法是直方圖，即測量顆粒體(tǐ)系的最小至最大(dà)較徑範圍.依次劃分(fēn)爲若幹逐漸增大(dà)的粒徑分(fēn)級，以粒徑與其對應尺寸顆粒出現的頻率作(zuò)圖，頻率内容可(kě)表示爲顆粒數目、質量、面積或體(tǐ)積。如(rú)果将各粒級再細分(fēn)爲更小的粒級，則直方圖變爲微分(fēn)圖。
 

　　依據對顆粒的分(fēn)離(lí)能力可(kě)将測量顆粒的技術分(fēn)爲單顆粒計(jì)數、顆粒分(fēn)級和整體(tǐ)平均結果三類。圖像分(fēn)析、顯微鏡是典型的單顆粒技術方法;分(fēn)級方法包括篩分(fēn)、沉降、離(lí)心和顆粒色譜等;整體(tǐ)平均的粒度分(fēn)析方法，從(cóng)收集到的所有測量顆粒産生(shēng)信号的總和計(jì)算粒度分(fēn)析，即測量結果由解析得(de)到，是被測顆粒整體(tǐ)的平均，因此易于實現自(zì)動化和在線分(fēn)析，但(dàn)分(fēn)辨率較低。用于催化劑工(gōng)業生(shēng)産的顆粒分(fēn)析儀選擇整體(tǐ)平均的方法，實驗室研究多數情況希望獲得(de)單顆粒技術與外貌信息，分(fēn)級方法的選擇，應當結合測量顆粒性質與測量方式考慮。
 

　　(2)二手粒度儀的信息與技術指标要求
 

　　粒度分(fēn)析儀的信息要求是指給出結果的表達方式.可(kě)以是平均粒徑、累加頻率值、正态分(fēn)布、分(fēn)布寬度.也可(kě)用對數正态分(fēn)布、非對稱分(fēn)布寬度、多峰分(fēn)布的各峰相(xiàng)對量，以及累加頻率的不同名義(如(rú)顆粒數、體(tǐ)積、面積等)表達。催化劑粒度分(fēn)析最有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數分(fēn)布。
 

　　不同粒度分(fēn)析儀技術的原理(lǐ)不同，原信息源和計(jì)量目标不同。例如(rú)光(guāng)衍射法的原信息源是散射光(guāng)強度，要求防止細顆粒中少數大(dà)顆粒對信息源的支配.電敏技術則按顆體(tǐ)積計(jì)數，因此各方法的基準不同，彼此不能簡單歸一同比。所以必須強調數據轉化因基準不同會帶來(lái)明顯的誤差。
 

　　不同粒度分(fēn)析技術都(dōu)受其測量原理(lǐ)限制.如(rú)光(guāng)衍射法不能測量小于光(guāng)源自(zì)然線寬的顆粒;沉降法則既受制于大(dà)尺寸端亂流的影(yǐng)響，又受小尺寸端擴散(布朗運動)的限制。一些測量儀器也會因制作(zuò)和操作(zuò)規程帶來(lái)一定限制。有時測量技術還(hái)對測量樣品的準備提出限制，PCS測量必須使顆粒懸浮，電鏡制樣要求優良分(fēn)散。因此，了解測量技術的局限性和嚴格滿足其限制要求.對獲取正确測量結果非常必要。