固體(tǐ)表面Zeta電位分(fēn)析儀是一款新型的、多用途分(fēn)析儀,是采用光(guāng)子相(xiàng)關光(guāng)譜法、電泳光(guāng)散射以及FST技術來(lái)分(fēn)析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體(tǐ)機(jī),并可(kě)測定固體(tǐ)以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合ISO标準.
固體(tǐ)表面Zeta電位分(fēn)析儀怎麽判斷狀态是否正常?下面一起來(lái)看(kàn)看(kàn)吧(ba)。
1、分(fēn)析軟件(jiàn)對圖像進行處理(lǐ)分(fēn)析,具有直觀、形象、準确和測試範圍寬等特點.可(kě)以觀察顆粒形貌,也可(kě)得(de)到粒度分(fēn)布等分(fēn)析結果.
2、蒸餾水作(zuò)分(fēn)散介質,不要加表面活性劑,配制不同濃度的金剛砂試樣溶液3份,超聲攪拌1min,然後進行粒度測定.粉體(tǐ)試樣濃度較小時,所測得(de)的粒徑較小、粒度分(fēn)布範圍也較窄(由其粒度分(fēn)布曲線可(kě)看(kàn)出).
3、固體(tǐ)表面zeta電位分(fēn)析儀,當粉體(tǐ)試樣濃度較大(dà)時,因複散射及顆粒容易團聚,所測得(de)的粒徑偏大(dà)、粒度分(fēn)布範圍較寬(由其粒度分(fēn)布曲線可(kě)看(kàn)出),測試結果誤差較大(dà).但(dàn)以上結果并不能說(shuō)明粉體(tǐ)試樣濃度越小越好,因爲濃度小到一定程度時,樣品中的顆粒已經大(dà)大(dà)減少,太少的顆粒數會産生(shēng)較大(dà)的取樣及測量随機(jī)誤差,這時的樣品已無代表性.
4、測量時也應該控制濃度的下限範圍,固體(tǐ)表面zeta電位分(fēn)析儀,在一般測試情況下,樣品遮光(guāng)度一般儀器10%-15%爲宜.本規程使用于噴霧激光(guāng)粒度儀,其原理(lǐ)爲散射理(lǐ)論,用濕法操作(zuò);固體(tǐ)表面zeta電位分(fēn)析儀,操作(zuò)前請(qǐng)仔細閱讀(dú)操作(zuò)手冊。
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